10 فروردین ، 1399 ورود 021-49732 EN FA
آزمون XRD

پراش اشعه ایکس:

الگوی پراش اشعه ایکس نموداری از شدت اشعه ایکس پراکنده شده از نمونه در زوایای مختلف است.

آشکار ساز در محوری دایره‌ای به دور نمونه می‌چرخد. موقعیت آشکار ساز بر اساس زاویه 2θ ثبت می‌شود (زاویه بین پرتو ورودی به آشکارساز و پرتو ابتدایی، 2θ است). در هر گام، آشکار ساز پرتوهای ایکس پراکنده شده را ثبت می‌نماید. در هر گام، آشکار ساز پرتو‌های ایکس پراکنده شده را ثبت می‌نماید. شدت اشعه ایکس دریافت شده معمولا به صورت Count یا Count per Second ثبت می‌شوند.

همچنین جهت متمرکز نگهداشتن پرتو اشعه ایکس، نمونه نیز چرخش می‌کند. در برخی دستگاه‌هایXRD، ممکن است به جای نمونه منبع تولید اشعه ایکس (X-ray tube) بچرخد.

هر فاز الگوی پراش مخصوص به خود را ایجاد می‌­کند. هر فاز یک آرایش اتمی و شیمیایی خاص است. کوارتز، کریستوبالیت و شیشه همگی فازهای مختلفی از SiO2 هستند. آن‌ها دارای ترکیب شیمیایی یکسان اما آرایش اتمی متفاوتی هستند. همانگونه که نشان داده شده است، الگوی پراش اشعه ایکس برای هر کدام از این فاز ها متفاوت است. مواد آمورف مانند شیشه ، در آنالیز XRD پیک واضحی ندارند.

الگوی پراش اشعه ایکس همانند اثر انگشت است که به شما برای کشف فازهای موجود در نمونه کمک می‌کند.

از طیف XRD موارد زیر قابل تعیین است: 1. چه نوع فاز های کریستالی در یک ترکیب وجود دارد. 2. چه مقدار از فاز ها در ترکیب وجود دارد (آنالیز فازی کمی). 3. وجود یا عدم وجود مواد آمورف در ترکیب

تجزیه و تحلیل کیفی داده‌های XRD

داده‌های تجربی XRD برای تشخیص فازهای موجود در نمونه‌ با الگوهای مرجع مقایسه می‌شوند.

الگوهای مرجع به صورت خطوط عمودی منطبق با پیک ها ارائه می گردند.

موقعیت و شدت هر کدام از این خطوط باید با داده های بدست آمده یکسان باشد.

مقدار کمی عدم انطباق در موقعیت و شدت پیک ها به دلیل خطای آزمایش قابل قبول می باشد.